1. Advanced Production Testing of RF, SoC, and SiP Devices
پدیدآورنده : \ Joe Kelly, Michael Engelhardt
کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)
موضوع : Systems on a chip -- Testing.,سیستمهای روی تراشه -- آزمایش
رده :
E-Book
,
![](/design/images/bookmore.png)
2. Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices
پدیدآورنده : / Joe Kelly, Michael Engelhardt
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع : Systems on a chip--Testing
رده :
TK
,
7895
,.
E42
,
K45
,
2007
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)
3. Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Systems on a chip ; Testing. ;
![](/design/images/bookmore.png)
4. Advanced production testing of RF, SoC, and SiP devices /
پدیدآورنده : Joe Kelly, Michael Engelhardt.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Systems on a chip-- Testing.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- General.,TECHNOLOGY & ENGINEERING-- Electronics-- Circuits-- Integrated.
رده :
TK7895
.
E42
K45
2007eb
![](/design/images/bookmore.png)
![](/design/images/visualshelfbtn.png)